INTEGRAZIONE DI UN CIRCUITO MICROFLUIDICO SUL RETRO DI UN MICROCHIP IN SILICIO - RICCARDO CALLEGARI - CERN Indico

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INTEGRAZIONE DI UN CIRCUITO MICROFLUIDICO SUL RETRO DI UN MICROCHIP IN SILICIO - RICCARDO CALLEGARI - CERN Indico
INTEGRAZIONE DI UN CIRCUITO MICROFLUIDICO
      SUL RETRO DI UN MICROCHIP IN SILICIO

                        RICCARDO CALLEGARI

                                   31/10/2018
INTEGRAZIONE DI UN CIRCUITO MICROFLUIDICO SUL RETRO DI UN MICROCHIP IN SILICIO - RICCARDO CALLEGARI - CERN Indico
Il CERN

    Acceleratore di particelle lungo 27 km che fa collidere
    particelle tra di loro oppure contro target fissi.

    In corrispondenza dei punti di collisione vengono installati i
    rivelatori di particelle.

                                                Un rivelatore di particelle traccia la traiettoria delle particelle
                                                risultanti dalle collisioni e ne misura quantita’ come energia e
                                                quantita’ di moto.

                                                Una tipologia di rivelatore sono i rivelatori in silicio di tipo pixel
                                                (forte analogia con il sensore delle macchine fotografiche)
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Cosa fa il gruppo Detector Technologies?
         •    Progetta e costruisce rivelatori di particelle
         •    Si occupa di servizi ausiliari fondamentali come il raffreddamento

Piastre microfluidiche in silicio per il raffreddamento dei rivelatori in silicio:
                                                                                                  150   µm
•   Stesso coefficiente di dilatazione termica tra rivelatore e sistema di
    raffreddamento;

•   Possibilita’ di minimizzare gli spessori;
                                                                                                                   200 x 70 µm
•   Raffreddamento distribuito e possibilita’ di localizzarlo nelle zone di
    maggior dissipazione

                                                                                                             Assottigliamento
                        Un wafer viene scavato e l’altro fa da tappo    Wafer bonding a 1050 °C              IBM 2 mm
Wafer di silicio                                                                                             CERN < 0.5 mm
monocristallino
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Oggi

                            Sensore

                 Adesivo

        Piastra µfluidica

           Metallizzazione
       Connettore saldato (kovar)

                                                                              2010: inizio R&D
                                                                              2014: primo rivelatore con questo sistema (NA62)
                                                                              2021: upgrade in uno dei maggiori esperimenti (LHCb)

    In futuro...
     Wafer bonding a bassa temperatura                                                 Microcanali integrati nel CMOS

                                         Sensore come «tappo»   Adesivo (?)
                                                                 Connettore
                                                                stampato 3D
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Obbiettivi
              •    Sviluppare un processo per integrare un circuito microfluidico all’interno di un chip in silicio gia’ esistente
              •    Sviluppare un sistema di connessione per interfacciare i microcanali con l’impianto esterno

      Specifiche e requisiti
      •   Post-process (quindi un valore aggiunto al dispotivo di partenza) a livello chip
      •   Compatibile con elettronica CMOS (limite su temperature
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Conceptual design
                                                                                                                                   Trincee (10 x 3 µm, profondita’ 30 µm)

                                                                                                                                                 Direzione del flusso
    5 diversi µcanali

                                                                                                       Unico microcanale                                  Sezione longitudinale
                                                                                                   (Ø 35 µm, lunghezza ≈ cm)

                   •    Si evitano differenze nei rapporti di aspetto tra µcanali e fori
                   •    Si evitano singole trincee strette 3 µm e lunghe cm
                   •    Mantiene i vantaggi del principio dei canali sepolti aumentando il margine di errore disponibile

                                                          M. Boscardin et al., 2013, “Silicon buried channels for pixel detector cooling”, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A
6                                               Lipp C., 2017, “Approaches for the fabrication of silicon buried channels for the thermal management of monolithic pixel detectors”, Master thesis, EPFL
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Fabbricazione dei µcanali: trasferimento del pattern
                                                     Sezione trasversale                           Tutti gli step descritti sono effettuati sul retro del chip:

                                                                                                   1. La superficie viene ossidata. Lo strato d’ossido avra’ una funzione
                                                                                                      protettiva che sara’ spiegata fra 2 slides
                                                     Ossidazione del backside

                                                                                                   2. Un polimero fotosensibile viene depositato sulla superficie (cambia
    processo simile allo sviluppo fotografico

                                                                                                      la propria solubilita’ a diversi agenti se irradiato con raggi UV o laser
                                                                                                      a determinata lunghezza d’onda)
                Fotolitografia:

                                                                                                   3. Un laser disegna il pattern delle trincee sul polimero fotosensibile

                                                                                                   4. Un solvente discioglie il polimero nelle zone irradiate, lasciando
                                                                                                      determinate aree senza protezione

                                     Circuito integrato     SiO2          Polimero fotosensibile

7                                    Zona di sicurezza      Silicio       Polimero fotosensibile esposto
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Fabbricazione dei µcanali: etching delle trincee
                              SF6+/C4F8+ alternati

                                                                                      5. Le trincee, non piu’ protette dal polimero, vengono
                                                                              30 µm      bombardate da ioni che asportano il silicio. Si
                                                                                         ottiene uno scavo verticale.
                                                                                                   35                                                            12
                       Substrato con carica opposta

                                                                                                                                                                      Aspect ratio [Depth/CD]
                                                                                                   30                                                            10
        Circuito integrato          SiO2             Polimero fotosensibile                        25
                                                                                                                                                                 8

                                                                                      Depth [µm]
                                                                                                   20
        Zona di sicurezza           Silicio                                                        15
                                                                                                                                                                 6

                                                                                                                                                                 4
                                                                                                   10
                                                                                                   5                                                             2

                                                                                                   0                                                             0
                                                                                                        0   100   200      300       400        500        600
                                                                                                                         Time [s]
                                                                                      Arrivati ad una certa profondita’ gli ioni non riescono piu’ a raggiungere il
                                                                                                            fondo  limite della tecnologia

    Dimensione di una singola trincea = 10 x 3 µm! Come si misura la profondita’?
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Fabbricazione dei µcanali: passivazione delle pareti
                                                6. Una pulizia al plasma rimuove il polimero fotosensibile,
                                                   non piu’ utile

                                                7. Uno strato di parylene, un altro polimero di passivazione,
              Pulizia al plasma                    viene depositato uniformemente tramite CVD

                                                8. Tale parylene viene rimosso dalle superfici orizzontali con
                                                   lo stesso processo anisotropico descritto in precedenza

                                                                                            Ioni
       Passivazione con parylene                        Parylene

                                                       SiO2            SiO2        SiO2            SiO2
                                                                                                           Parylene
                                                                                                           protetto
    Rimozione del parylene dal fondo                                                                       dal SiO2

                                                              Substrato                   Substrato
    Parylene
                           Zona di sicurezza
    SiO2                                                L’ossido protegge il parylene depositato sulla
                           Circuito integrato          smerlatura tipica dell’etching anisotropico dalla
9   Silicio                                                         direzionalita’ degli ioni
INTEGRAZIONE DI UN CIRCUITO MICROFLUIDICO SUL RETRO DI UN MICROCHIP IN SILICIO - RICCARDO CALLEGARI - CERN Indico
Fabbricazione dei µcanali: etching dei canali

                                  XeF2

                                                                     Ø 35 µm

                     Parylene
                                           Zona di sicurezza
                     SiO2
                                           Circuito integrato
                     Silicio

     9. Il difloruro di xeno scava il silicio in modo isotropico ma non ha
        effetti su parylene e SiO2. Quindi il silicio viene scavato solamente
        dal fondo di ogni trincea

10
Fabbricazione dei µcanali: chiusura delle trincee

                                       Pulizia al plasma

        3 µm

                             Parylene
                                                   Zona di sicurezza
                             SiO2
                                                   Circuito integrato
                             Silicio

     10. Un’ulteriore pulizia al plasma rimuove ogni traccia della precedente deposizione di parylene.

     11. Una nuova deposizione dello stesso materiale, questa volta piu’ spessa, va a sigillare ogni singola trincea. Il parylene si
         depositera’ anche sulle pareti dei microcanali, ma essendo questi di dimensione maggiore (Ø 35 µm) rispetto all’apertura
11       minore delle trincee (3 µm), non risulteranno occlusi
Come interfacciare i microcanali con il “mondo esterno”?

                Capillari di iniezione ed
                 estrazione del fluido
                     (Øext 1.6 mm)

                 Connettore stampato 3D

                                                                     Sedi per l’adesivo di
                                                                     supporto strutturale
               O-rings (1.15 mm x 1 mm)                                   ai capillari

                Nastro biadesivo                                     Evitano infiltrazioni
                                                                     dell’adesivo ancora
                       Chip in silicio con fori di                      in fase liquida
                     iniezione fluido (Ø 500 µm)

                                                     6 mm
                                                                     Evitano che il fluido possa
                                                                      entrare in contatto con il
                                                                           nastro adesivo

                                                            9.6 mm

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Caratterizzazione del connettore
                                 Test effettuati:

                                  Circolazione di fluido

                                  Rilevamento perdite di elio: ≈10-8 mbar ∙ l / s

                                  Test in pressione: 15 bar (distacco dei tubi):

                                           H2O

                                                            Trasduttore di
                                 Pompa idraulica                                     Connettore
                                                              pressione

     Connettore assemblato con
        adattatori Swagelok
                                                                 PC

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Conclusioni e outlook
            E’ stato sviluppato un processo per
             integrare microcanali all’interno di un
             chip estremamente sottile

            E’ stato sviluppato un connettore per
             interfacciare tali microcanali

            E’ stata dimostrata circolazione!

     •   Effettuare un test di rilevamento perdite d’elio
         sul dispositivo assemblato

     •   Effettuare il wire bonding del chip sulla PCB e
         dimostrarne il funzionamento

     •   Effettuare studio termo-fluidico per valutare la
         quantita’ di calore che puo’ essere asportata,
         con conseguente ottimizzazione del circuito
         microfluidico
14
Grazie per l’attenzione!

15
Backup slides

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Puoi anche leggere